Numer sali: B3
Nazwa Katedry: Katedra Technologii Materiałów i Maszyn
Opiekun pracowni: mgr inż. Tomasz Chrostek
Zakres tematyczny zajęć:
Pomiary za pomocą przyrządów suwmiarkowych i mikrometrycznych, pomiary średnic wewnętrznych za pomocą średnicówek, pomiary kątów, pomiary porównawcze metodą różnicową,
Wykonanie liniowych pomiarów chropowatości powierzchni: wyznaczanie parametrów chropowatości m.in.: Ra, Rz, Rq, Rt; oraz falistości,
Pomiary profilu powierzchni powłok: tworzenie map 3D powierzchni powłok, analiza rozkładu wysokości powłok,
Pomiary charakterystycznych wielkości gwintów metrycznych zewnętrznych i wewnętrznych z użyciem igły dwustronnej: kąta profilu, średnicy podziałowej, średnicy zewnętrznej, średnicy rdzenia, skoku gwintu,
Tolerowanie wymiarów za pomocą maszyny współrzędnościowej.
Wyposażenie pracowni:
Stanowisko podstawowych pomiarów metrologicznych: suwmiarki, mikrometry, średnicówki, wysokościomierz, optimetry pionowe, kątomierz, mikroskop warsztatowy, zestaw płytek wzorcowych, czujniki zegarowe,
Stanowisko do badań struktury geometrycznej powierzchni z zastosowaniem oprogramowania Formtracepack oraz MCubeMap,
